單項(xiàng)選擇題超聲波從聲阻抗Z1的介質(zhì)通過(guò)聲阻抗Z2的薄層介質(zhì)向聲阻抗Z3的介質(zhì)透入時(shí)，為了得到良好的透聲效果，應(yīng)當(dāng)使薄層厚度等于1/4波長(zhǎng)的奇數(shù)倍，并且其聲阻抗Z2=（）。

A、（Z1Z3）1/2
B、Z1Z3
C、Z1/Z3
D、Z3/Z1


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1.單項(xiàng)選擇題檢測(cè)筒狀工件時(shí)選擇K值應(yīng)滿足（）。

A、r/D＜86%時(shí)，用K＝1的探頭
B、r/D≤96%時(shí)，用K＝2的探頭
C、r/D≤97.5%時(shí)，用K＝2.5的探頭
D、以上都對(duì)

2.單項(xiàng)選擇題同一固體材料中縱波聲速大于橫波聲速，橫波聲速大于表面聲速，對(duì)于鋼材來(lái)說(shuō)（）。

A、CL：CS：CR≈1.8：2.0：1
B、CL：CS：CR≈1：1：1
C、CL：CS：CR≈1.8：1.0：0.9
D、CL：CS：CR≈1：2.0：4

4.單項(xiàng)選擇題（）是指橫波入射時(shí)使同介質(zhì)中的縱波反射角等于90°時(shí)的橫波入射角及在同介質(zhì)中的縱波全反射。

A、第三臨界角
B、第一臨界角
C、第二臨界角
D、半擴(kuò)散角

5.單項(xiàng)選擇題（）是指縱波入射時(shí)使第二介質(zhì)中的橫波折射角等于90°時(shí)的縱波入射角及第二介質(zhì)中的橫波全反射。

A、第二臨界角
B、第一臨界角
C、第三臨界角
D、以上都不對(duì)

最新試題

無(wú)損探傷檢測(cè)采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長(zhǎng)范圍為（）mm，峰值波長(zhǎng)為365mm。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng)，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)線圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)線圈的互感線圈一般由（）構(gòu)成。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測(cè)中硬度檢驗(yàn)是一種（）方法。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

各類(lèi)渦流檢測(cè)儀器的（）和結(jié)構(gòu)各不相同。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量（）測(cè)量功能的通用型儀器。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)線圈感應(yīng)和接收材料或零件中感生渦流的再生磁場(chǎng)的傳感器，它是構(gòu)成（）系統(tǒng)的重要組成部分，對(duì)于檢測(cè)結(jié)果的好壞起著重要的作用。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題