單項(xiàng)選擇題（）Kt較大能獲得較高的轉(zhuǎn)換效率。

A、機(jī)電耦合系數(shù)
B、品質(zhì)因素
C、機(jī)械品質(zhì)因子
D、壓電電壓常數(shù)


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1.單項(xiàng)選擇題用（）表示兩個(gè)擬比聲強(qiáng)的比值，再取以十為底的常用對(duì)數(shù)得到聲強(qiáng)級(jí)。

A、小數(shù)
B、負(fù)數(shù)
C、常數(shù)
D、對(duì)數(shù)

3.單項(xiàng)選擇題檢測(cè)筒狀工件時(shí)選擇K值應(yīng)滿足（）。

A、r/D＜86%時(shí)，用K＝1的探頭
B、r/D≤96%時(shí)，用K＝2的探頭
C、r/D≤97.5%時(shí)，用K＝2.5的探頭
D、以上都對(duì)

4.單項(xiàng)選擇題同一固體材料中縱波聲速大于橫波聲速，橫波聲速大于表面聲速，對(duì)于鋼材來說（）。

A、CL：CS：CR≈1.8：2.0：1
B、CL：CS：CR≈1：1：1
C、CL：CS：CR≈1.8：1.0：0.9
D、CL：CS：CR≈1：2.0：4

最新試題

當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷檢測(cè)即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí)，缺陷波高與缺陷面積成（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí)，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測(cè)量黑光。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量（）測(cè)量功能的通用型儀器。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題