A.改變縱波入射角度以得到要求的橫波折射角度
B.通過電脈沖控制改變獨立晶片的角度
C.用計算機控制同步電路
D.改變發(fā)射和接收延時間隔調(diào)節(jié)角度
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A.探頭壓電晶片是一個整體
B.通過改變延時間隔，可以改變聲束焦距長度
C.不適用于復(fù)雜工件的檢測
D.不能進行扇形掃描
A.缺陷回波法、底波高度法和多次底波法
B.直射波法、斜射波法和衍射時差法
C.一次波法、一次反射法和板波法
D.以上都對
A.與波速無關(guān)
B.與工件厚度有關(guān)
C.與探頭中心間距有關(guān)
D.與檢測聲波頻率有關(guān)
A.平行于探測面的缺陷
B.與探測面傾斜的缺陷
C.垂直于探測面的缺陷
D.不能用斜探頭檢測的缺陷
A.工件中有小而密集的缺陷
B.工件中有局部晶粒粗大區(qū)域
C.工件中有疏松缺陷
D.以上都有可能
最新試題
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
儀器水平線性影響（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
超聲檢測儀盲區(qū)是指（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。