A.將X-切割的石英晶體直接置于材料的表面
B.用兩個(gè)換能器置于試件相對(duì)的兩側(cè)
C.將球形聲透鏡置于換能器的面上
D.用裝在塑料楔塊上的“斜-束換能器”使聲束以一角度進(jìn)入工件
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A.1.9m
B.78mm
C.6.35mm
D.30000A
A.縱波
B.剪切波
C.橫波
D.表面波
A.入射的垂直角
B.臨界角
C.最大反射角
D.以上都不是
A.縱波
B.剪切波
C.以上A和B
D.表面波
A.2.25MHz
B.1MHz
C.5MHz
D.10MHz
最新試題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
單探頭法容易檢出（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。