A.工件內(nèi)有小缺陷
B.工件內(nèi)無缺陷
C.工件內(nèi)有大缺陷
D.工件內(nèi)有傾斜的或小而密集的缺陷
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.工件內(nèi)有小缺陷
B.工件內(nèi)無缺陷
C.工件內(nèi)有大缺陷
D.無法確定
A.工件表面粗糙度對聲耦合有一定的影響
B.對于同一耦合劑,表面越粗糙,耦合效果越差
C.聲阻抗高的耦合劑,隨粗糙度的變差,耦合效果降低得更快
D.以上都對
A.耦合層的厚度對耦合沒有影響
B.在接觸法檢測中,耦合層厚度越薄,耦合效果越好
C.在液浸法檢測中,考慮耦合層厚度的因素,在使用聚焦探頭時主要考慮的是使耦合層厚度滿足多次重合法
D.在液浸法檢測中,考慮耦合層厚度的因素,在使用平探頭時主要考慮的是探頭焦距
A.機油
B.甘油
C.水
D.漿糊
A.材質(zhì)均勻,內(nèi)部雜質(zhì)少無影響使用缺陷
B.加工容易、不易變形和銹蝕
C.無影響使用缺陷
D.聲學(xué)性能盡可能與被檢工件相同或相近
最新試題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
儀器水平線性影響()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
單探頭法容易檢出()。
()是影響缺陷定量的因素。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。