A、1/2波長的整數(shù)倍時(shí)
B、1/2波長的奇數(shù)倍時(shí)
C、1/4波長的奇數(shù)倍時(shí)
D、1/4波長的整數(shù)倍時(shí)
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你可能感興趣的試題
A、tp=1＋rp
B、R=rp2
C、D=1－rp2
D、以上都不對(duì)
A、（Z2－Z1）/（Z1＋Z2）
B、2Z2/（Z1＋Z2）
C、4Z1×Z2/（Z1＋Z2）2
D、[（Z2－Z1）/（Z1＋Z2）]2
A、1/2波長的整數(shù)倍時(shí)
B、1/2波長的奇數(shù)倍時(shí)
C、1/4波長的奇數(shù)倍時(shí)
D、1/4波長的整數(shù)倍時(shí)
A、底波被較大的面積性缺陷反射
B、底波被較小的單個(gè)球狀缺陷反射
C、底波的能量被轉(zhuǎn)換為電能而吸收
D、以上都可能
A、3200和3200
B、3200和5900
C、5900和5900
D、以上都不對(duì)
最新試題
對(duì)于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在（）材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
各類渦流檢測儀器的（）和結(jié)構(gòu)各不相同。
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測量（）測量功能的通用型儀器。
采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
對(duì)檢測儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。
在遠(yuǎn)場區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí)，缺陷波高與缺陷面積成（）
當(dāng)波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時(shí)，移動(dòng)探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。
根據(jù)檢測對(duì)象和目的的不同，渦流檢測儀器一般可分為（）、渦流電導(dǎo)儀和渦流測厚儀三種。