A.復(fù)合機(jī)構(gòu)
B.能帶結(jié)構(gòu)
C.晶體結(jié)構(gòu)
D.散射機(jī)構(gòu)
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A.高可靠性
B.高頻
C.大功率
D.高電壓
A.處于絕對零度
B.不含任何雜質(zhì)
C.不含任何缺陷
D.不含施主
A.點(diǎn)陣中的金屬原子間隙
B.一種在禁帶中引入施主的點(diǎn)缺陷
C.點(diǎn)陣中的點(diǎn)陣中的金屬原子空位
D.一種在禁帶中引入受主的位錯(cuò)
A.電子在晶體中各處出現(xiàn)的幾率相同
B.電子在晶體原胞中各點(diǎn)出現(xiàn)的幾率相同
C.電子在晶體各原胞對應(yīng)點(diǎn)出現(xiàn)的幾率相同
D.電子在晶體各原胞對應(yīng)點(diǎn)的相位相同
A.n
B.p
C.本征
最新試題
理想的MOS管其柵極電壓只會(huì)落在絕緣層和半導(dǎo)體襯底表面層上,柵極分壓占比小于50%。
柵極材料與半導(dǎo)體材料的功函數(shù)差會(huì)因半導(dǎo)體材料的摻雜濃度變化而變化。
半導(dǎo)體的主要特征有()()()和()。
絕緣層材料質(zhì)量影響MOS管的閾值電壓。
P溝增強(qiáng)型MOS管存在著一個(gè)柵極截止電壓。
當(dāng)p溝耗盡型MOS管處于飽和工作區(qū)時(shí),漏極將失去對漏源電流的控制能力。
MOS管的伏安特性曲線含義是漏源電壓與漏源電流之間的關(guān)系曲線。
MOS管閾值電壓的單位是eV。
晶體管正常使用過程中,處于正偏的PN結(jié)是()結(jié),處于反偏的PN結(jié)是()結(jié)。
()是最早實(shí)現(xiàn)提純和完美晶體生長的半導(dǎo)體材料。